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蔡司扫描电镜半导体和电子行业解决方案网络研讨会

   诚邀您参加蔡司显微镜在半导体和电子行业解决方案系列网络研讨会,与蔡司专家、行业专家和思想领袖沟通交流,了解并解决来自半导体和电子行业的挑战。

  首日将由行业专家分享半导体器件失效分析及表征方面的经验,以及先进封装技术的行业趋势和解决方案,并在当天现场演示在蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM上搭载Kleindiek纳米探针的解决方案和能力。

  会议第二天将聚焦于蔡司及其合作伙伴针对先进封装行业的解决方案,并展示如何利用行业领先的X射线显微镜平台进行无损成像,以及如何通过先进的机器学习来提高图像质量和通量。最后还将在线实时演示蔡司激光双束技术(LaserFIB)在电子封装失效分析和开发中的应用。

蔡司扫描电镜

  敬请期待更多行业演讲嘉宾,期待您拨冗参加!

  点击此处报名参会

  第一天:半导体晶片级分析

  时 间:2021年10月14日 星期四 | 下午2点至5点

  Dr Yeoh Lai Seng

  InfineonBruker元素分析和Kleindiek纳米探针在蔡司场发射扫描电镜(FE-SEM)中的应用

  Dr Zhao Si Ping

  A*STAR Institute of

  Microelectronics先进封装的失效分析和工艺表征概述

  Dr Chuan Wei Chung

  ZEISS先进半导体器件的晶片级失效分析

  Andreas Rummel &

  Dr Andrew Jonathan

  Smith

  Kleindiek Kleindiek纳米探针在蔡司场发射扫描电镜GeminiSEM上的实况演示和线上研讨会

蔡司扫描电镜

扫描电子显微镜

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