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  •    独特的蔡司三坐标测量技术:主动式扫描测量   大多数扫描系统为被动式设计。其测力由一个弹性平行四边形生成。由于被动探头的控制范围小,不断变化的测力会对它们造成不同的影响,从而导致测针发生较大的弯曲并导致大的探测误差。这样当轮廓曲率增大时,精度就会降低。相反地,蔡司采用主动扫描探头一也是*一家提供主动探头的制造商。例如蔡司的VASTXTgol详细>>
  •    扫描电镜SEM的基本操作   要获得一张清晰的电镜照片,必须要能够做好*基本的电镜操作、以及针对各种样品做出工作条件的优化。   基本操作包括熟练的调节对焦和消像散。对焦相对容易,改变焦距,直至图像*清楚的时刻即为合焦。在偏离焦距较多的时候可以用较高的灵敏度,在合焦点附近调低灵敏度,以便进行精确对焦。   基本操作中消像散相对来说比较麻详细>>
  •  蔡司Xradia Ultra系列纳米级X射线显微镜(纳米CT)作为成熟的商业化纳米三维成像技术产品,利用来源于同步辐射X射线光学成像技术,可实现优于50 nm分辨率的无损纳米级成像,并提供吸收和相位衬度两种模式。 该技术可兼顾轻元素软材料和各种中高密度的硬材料成像,为电池材料,高分子材料,复合材料,金属材料,油气领域和生命科学等研究提供了数十纳详细>>
  •    普通教育看高考,职业教育看比赛。对于职业教育师生而言,各类职业教育创新创业比赛、技能大赛是推动职业教育发展的重要动力。此次“双创”比赛中,蔡司工业质量解决方案更是全情投入,在硬件和软件两方面成为赛事承办方。在硬件上,蔡司为大赛赞助20台蔡司三维扫描仪-Scan 1 ,让赛事的硬件设置水平达到国际水准。 蔡司三维扫描仪   多年来,蔡详细>>
  •    在蔡司扫描电镜原位实验平台中自动追踪到的不锈钢样品在力学拉伸过程中微观组织的变化。   当您在运用基于扫描电镜的拉伸/加热装置来实现材料原位表征时:   ➢ 是否经常在不同电脑上操作电镜,设置原位台参数,以及控制EDS/EBSD探测器等一系列工作中疲于奔命?   ➢ 同时又因为这些装置协作不好而难以获详细>>
  •    德国埃尔朗根-纽伦堡大学ErdmannSpiecker教授及其同事近日展示了一种电镜新玩法。他们通过在扫描电镜(SEM)及透射电镜(TEM)装置中加入压电臂,实现了原位清洁石墨烯薄膜表面,其洁净程度达原子级别。此外,作者们在洁净石墨烯表面上利用特定表面吸附物生长了石墨烯。   石墨烯的清洗利用了灰尘与石墨烯表面作用力微弱的特点,其清洁过程如详细>>
  •    01多重荧光标记的大组织样品如何做到快速、精确的信号拆分?   由于研究细胞生物学和组织的异质性,多重荧光标记往往带来光谱重叠从而导致串色的可能。Rios博士团队寻求到一种快速高效的成像策略——配备32通道光谱检测器的蔡司激光共聚焦显微镜(点击查看),以便及时对大组织、多标记样品进行光谱拆分和成像。   首先Rios博士团队从详细>>
  •    接上:扫描电子显微镜的46个知识点(下)    35. 样品电流(Specimen Current):电子束射到样品上时,一部份产生二次电子及背向散射电子,另一部份则留在样品里,当样品接地时即产生样品电流。   36. 电子侦测器有两种,一种是闪烁计数器侦测器(Scintillator),常用于侦测能量较低的二次电子,另一种是详细>>
  •    接上:扫描电子显微镜的46个知识点(中)    22. 面像差为物镜中主要缺陷,不易校正,因偏离透镜光轴之电子束偏折较大,其成像点较沿轴电子束成像之高斯成像平面(Gauss image plane)距透镜为近。   23. 散光像差由透镜磁场不对称而来,使电子束在二互相垂直平面之聚焦落在不同点上。散光像差一般用散光像差补偿器详细>>
  •    接上篇:扫描电子显微镜46个知识点(上) 13. 要从极细的钨针尖场发射电子,金属表面必需完全干净,无任何外来材料的原子或分子在其表面,即使只有一个外来原子落在表面亦会降低电子的场发射,所以场发射电子枪必需保持超高真空度,来防止钨阴极表面累积原子。由于超高真空设备价格极为高昂,所以一般除非需要高分辨率SEM扫描电镜,否则较少采用场发射电子详细>>
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