蔡司X射线显微镜Xradia Versa的参数和优势

 　　蔡司X射线显微镜构造

　　Xradia Versa架构使用两级放大技术，使您能够以独特的方式实现远距离分辨率(RaaD)。像传统的显微CT一样，通过几何放大放大样本图像。在第二阶段，闪烁体将X射线转换为可见光，然后进行光学放大。减少对几何放大倍率的依赖使Xradia Versa仪器能够在大工作距离下保持亚微米分辨率。这使您能够有效地研究最广泛的样本大小，包括在原位室中。

　　更高的X射线通量源

　　ZEISS Xradia Versa采用高度优化的密封透射x射线源技术。密封源意味着更高的真空和更长的灯丝寿命-消除昂贵的，低真空开源microCT系统需要耗时且容易出错的频繁灯丝更改，提高了光源的稳定性和寿命，同时提供-致的性能。

　　实现真实的空间分辨率

　　Xradia Versa解决方案提供强大的3D X射线成像，在各种工作距离、样品尺寸和环境下保持真正的亚微米级空间分辨率。蔡司X射线显微镜使用显微镜性能最具意义的衡量指标一真正的空间分辨率。

　　显示*小尺寸，*准确地测量它们

　　工业CT检测计量精度:蔡司Xradia Versa使用MTX进行校准，可为小规模体积的测量提供市场领先的最大允许误差值MPE SD=(1.9 + L/100)um,其中L是测量长度，单位为mm。

　　高分辨率下的小体积: MTX 能够在125 mm 3的小重建体积内以高尺寸精度进行测量。

　　简单的校准工作流程: MTX软件包提供了一个集成的用户指导校准工作流程。

　　执行校准程序后，您就可以执行精确测量并将数据提供给标准计量软件以进行进一步处理。